Punti di vista

La fotografia realista di Arno Hammacher al Museo nazionale della scienza e tecnologia di Milano

di Mariateresa Truncellito

Quando il fotografo e progettista grafico Arno Hammacher (L’Aja, 1927) si trasferisce nel 1957 dall’Olanda a Milano, la prima istituzione culturale che visita è il Museo nazionale della scienza e della tecnologia Leonardo da Vinci. Ne resta affascinato. E siccome abita poco lontano, in piazza Sant’Ambrogio, ci torna spesso.

Dopo cinquant’anni, il legame affettivo tra Hammacher e il Museo è intatto: al punto che qui ha voluto realizzare la prima grande mostra dedicata alla sua opera, «Il punto di vista di Arno». Il lavoro di Hammacher viene ricomposto attraverso materiali documentari, bibliografici e fotografici (un archivio di oltre 90 mila immagini) acquisiti dalla Regione Lombardia nel 1992, dopo una collaborazione iniziata negli anni Settanta, quando Hammacher realizzò reportage dedicati al territorio lombardo.

Peculiarità della mostra è anche il dialogo avuto della curatice Giovanna Ginex con il fotografo, che ha direttamente ispirato il percorso espositivo. A parte l’affetto, c’è una chiara convergenza fra la ricerca formale di Hammacher e le tematiche del Museo milanese: la macchina, l’ingranaggio, la ricerca materica, il lavoro, l’acqua, la stampa. Opera di esordio dell’artista - e ancora oggi tema centrale del suo lavoro - è lo studio della natura: il dettaglio di una corteccia, i volumi delle radici di un albero, le increspature del mare sulla battigia, il tracciato geometrico di un campo arato.

Ricorrenti sono poi il dialogo tra fotografia e scultura, l’attenzione al mondo del design e dell’industria, il lavoro e il paesaggio preindustriali, i cantieri nella Milano del boom, la fabbrica e l’immagine del prodotto (con servizi per le grandi aziende italiane, come Pirelli, Italsider e Innocenti) e i muri delle città.

Il punto di vista di Arno (19 novembre 2008 - 28 febbraio 2009)
Milano, Museo nazionale della scienza e della tecnologia Leonardo da Vinci

da «Verve» (ed. Verve International), novembre 2008